德國OPTRIS歐普士緊湊型工業(yè)短波紅外熱像儀 Xi1M 28°x21°

2025/06/13 15:35:50

Optris Xi 1M 是一款短波紅外熱像儀，擅長對具有挑戰(zhàn)性的物體進行非接觸熱成像。它能夠測量熱金屬、鋼鐵、陶瓷和半導(dǎo)體的表面溫度。憑借熱測量能力和電動對焦功能，該熱像儀在工業(yè)環(huán)境中提供了可靠性和便利性，無需額外的硬件。它配備了以太網(wǎng)、USB 接口，以及模擬和數(shù)字過程接口，實現(xiàn)了與控制系統(tǒng)和機械設(shè)備的無縫集成。

德國OPTRIS歐普士緊湊型工業(yè)短波紅外熱像儀 Xi1M 28°x21°

工業(yè)以太網(wǎng)短波紅外熱像儀

寬測量范圍從 450°C 到 1800°C，無需子范圍

尺寸小且堅固，配備電動對焦

高動態(tài) CMOS 探測器，分辨率為 396 x 300 像素

運行，帶自動熱點查找和直接模擬或報警輸出，并具有多種現(xiàn)場總線通信選項

型號

Xi1M 7°x5°

Xi1M 14°x10°

Xi1M 28°x21°

Xi1M 7°x5° CF

探測器
光學(xué)分辨率	全分辨率：396×300 像素（以太網(wǎng)）; 子幀模式：132×100 像素（USB，模式）; 線掃描：396×8 像素（以太網(wǎng)）; 線掃描：396×1 像素（以太網(wǎng)，模式）
像素間距	15 μm
探測器	CMOS
光譜范圍	高溫測量: 0.85 – 1.1 μm
光學(xué)濾鏡	無
幀率	20 Hz

光學(xué)
視場角	7°x5° (396×300 像素)	14°x10° (396×300 像素)	28°x21° (396×300 像素)	7°x5° CF (396×300 像素)
焦距 [毫米]	50	25	12	50
F值	2.8	1.8	2	2.8
光學(xué)分辨率	806:1	401:1	195:1	830:1
到目標的*小距離	800 mm	300 mm	300 mm	500 mm
可更換光學(xué)器件	No

測量
物體測量范圍	450 °C … 1800 °C (20Hz) 550 °C … 1800°C (500Hz) **1)
精度	物體溫度 < 1400 °C：讀數(shù)的 ±1% 物體溫度 < 1600 °C：讀數(shù)的 ±2%
熱靈敏度 (NETD)	< 2 K (小于900 °C時) / < 4 K (小于1400 °C時)
*小可檢測點大小 IFOV: 1像素	0.3mm	0.5mm	0.7mm	0.1mm
*小可測量點大小 MFOV	1.2mm	2.5mm	2.8mm	0.4mm
MFOV測量視場	4×4 像素
預(yù)熱時間	10 分鐘
發(fā)射率/透過率/反射率	可調(diào)：0.100…1.100

Optris Xi 1M 是一款短波紅外熱像儀，在非接觸熱成像領(lǐng)域提供了創(chuàng)新、經(jīng)濟實惠和高精度的性能，專門用于測量具有挑戰(zhàn)性的物體表面溫度。設(shè)計在短波紅外范圍內(nèi)工作（波長：0.85 – 1.1 μm），這款前視紅外熱像儀專為捕捉熱鋼、鐵、黃銅、銅、錫、碳、陶瓷和半導(dǎo)體的表面溫度分析而設(shè)計。為了滿足各行業(yè)的嚴格要求，Optris Xi 1M 提供了寬廣的高溫測量范圍、*的準確性和可定制的視場配置。

許多由非光亮材料組成的測量物體在長波紅外光譜范圍內(nèi)顯示出較高且相對恒定的發(fā)射率，而這些材料在長波紅外波段的低發(fā)射率會導(dǎo)致測量結(jié)果的不穩(wěn)定和不可靠。短波 Xi 1M 紅外熱像儀的光譜范圍與大多數(shù)金屬材料的*發(fā)射率相匹配，從而簡化了遠程溫度測量。此外，根據(jù)普朗克輻射定律，在短波范圍內(nèi)發(fā)射的紅外輻射顯著增加，因此線性發(fā)射率問題對短波溫度測量結(jié)果的重復(fù)性影響較小。因此，在考慮到較高的溫度測量范圍時，對高溫光亮材料的非接觸溫度測量應(yīng)盡可能使用短波段。

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