簡(jiǎn)介

本測(cè)試儀是專(zhuān)門(mén)針對(duì)小功率可控硅研制開(kāi)發(fā)的測(cè)試儀，可測(cè)試各種小型塑封管，型號(hào)包括 BTA16、MCR100-6、T410等。測(cè)試方法符合國(guó)標(biāo)GB-4024-83《半導(dǎo)體反向阻斷三極晶閘管的測(cè)試方法》，能測(cè)試各種小功率可控硅的IGT、VGT、IH三項(xiàng)參數(shù)。線路設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔精煉，采用單片機(jī)控制、自動(dòng)測(cè)試、數(shù)字顯示、操作簡(jiǎn)單、維修方便、價(jià)格低廉，是電子半導(dǎo)體器件廠家和器件使用廠家 為的檢測(cè)設(shè)備。
主要指標(biāo)：
1. 觸發(fā)電壓測(cè)試范圍: 0-2V/0-5V，也可定制其它范圍
2. 觸發(fā)電流測(cè)試范圍: 0-200uA/0-1000uA/0-10mA，也可定制其它范圍
3. 維持電流測(cè)試范圍: 0-200uA/0-1000uA/0-10mA，也可定制其它范圍
4．根據(jù)器件封裝可配測(cè)試管座
主要特點(diǎn)：
1. 每次測(cè)試只需按一下測(cè)試按鈕即可依次將所設(shè)定的參數(shù)測(cè)完并自動(dòng)復(fù)位等待下次測(cè)試。
2. 參數(shù)測(cè)試結(jié)果的顯示時(shí)間可在1-9秒內(nèi)任意設(shè)定，也可以長(zhǎng)時(shí)間顯示，再按下測(cè)試按鈕進(jìn)行下一參數(shù)的測(cè)試。
3. 有故障判斷功能，當(dāng)被測(cè)管是壞的，或因接線錯(cuò)誤、接觸不良等原因測(cè)不出參數(shù)時(shí)，儀器即自動(dòng)判斷故障，此時(shí)測(cè)試按鈕燈閃爍一下，并能發(fā)出嘟的一聲報(bào)警。

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本測(cè)試儀是專(zhuān)門(mén)針對(duì)小功率可控硅研制開(kāi)發(fā)的測(cè)試儀，可測(cè)試各種小型塑封管，型號(hào)包括 BTA16、MCR100-6、T410等。測(cè)試方法符合國(guó)標(biāo)GB-4024-83《半導(dǎo)體反向阻斷三極晶閘管的測(cè)試方法》，能測(cè)試各種小功率可控硅的IGT、VGT、IH三項(xiàng)參數(shù)。線路設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔精煉，采用單片機(jī)控制、自動(dòng)測(cè)試、數(shù)字顯示、操作簡(jiǎn)單、維修方便、價(jià)格低廉，是電子半導(dǎo)體器件廠家和器件使用廠家 為的檢測(cè)設(shè)備。
主要指標(biāo)：
1. 觸發(fā)電壓測(cè)試范圍: 0-2V/0-5V，也可定制其它范圍
2. 觸發(fā)電流測(cè)試范圍: 0-200uA/0-1000uA/0-10mA，也可定制其它范圍
3. 維持電流測(cè)試范圍: 0-200uA/0-1000uA/0-10mA，也可定制其它范圍
4．根據(jù)器件封裝可配測(cè)試管座
主要特點(diǎn)：
1. 每次測(cè)試只需按一下測(cè)試按鈕即可依次將所設(shè)定的參數(shù)測(cè)完并自動(dòng)復(fù)位等待下次測(cè)試。
2. 參數(shù)測(cè)試結(jié)果的顯示時(shí)間可在1-9秒內(nèi)任意設(shè)定，也可以長(zhǎng)時(shí)間顯示，再按下測(cè)試按鈕進(jìn)行下一參數(shù)的測(cè)試。
3. 有故障判斷功能，當(dāng)被測(cè)管是壞的，或因接線錯(cuò)誤、接觸不良等原因測(cè)不出參數(shù)時(shí)，儀器即自動(dòng)判斷故障，此時(shí)測(cè)試按鈕燈閃爍一下，并能發(fā)出嘟的一聲報(bào)警。