鍍金測(cè)厚儀器的有天瑞儀器。該型號(hào)使用全自動(dòng)軟件進(jìn)行操作，能夠進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)試，儀器和移動(dòng)平臺(tái)均由軟件控制。配備有φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器，能夠滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求；同時(shí)，它具有高的移動(dòng)平臺(tái)，重復(fù)定位小于0.005mm；采用高度定位的激光，能夠自動(dòng)設(shè)定測(cè)試高度；并且裝配有高分辨率探頭，確保分析結(jié)果更加準(zhǔn)確。

詳情介紹

EDX600pro是一款具備高和多種功能的X熒光檢測(cè)儀。它配備了一鍵測(cè)試按鈕和高的X/Y移動(dòng)滑軌，使得檢測(cè)過(guò)程變得便捷迅速。根據(jù)不同產(chǎn)品的大小和材質(zhì)，用戶可以靈活更換適當(dāng)?shù)臏?zhǔn)直器和濾光片，以實(shí)現(xiàn)*測(cè)量。同時(shí)，該儀器能夠進(jìn)行元素成分分析、各種尺寸的異型涂層檢測(cè)，以及符合ROHS指令的測(cè)試。

鍍金測(cè)厚儀器有哪些？EDX-V是一款全新的測(cè)試儀，集成了過(guò)30年的X熒光膜厚測(cè)量技術(shù)研發(fā)，采用從上到下照射的X熒光測(cè)試方式，配備多導(dǎo)毛細(xì)管X射線光學(xué)系統(tǒng)。該儀器適用于無(wú)損分析，能夠準(zhǔn)確測(cè)量極微小部件上的鍍層厚度，特別適合微米級(jí)尺寸的電子零件、芯片導(dǎo)線、晶圓微區(qū)等部件的鍍層厚度及成分進(jìn)行高效測(cè)量。

測(cè)量的元素包括從13號(hào)鋁（Al）到92號(hào)鈾（U）之間的所有元素。

檢測(cè)能力：具備同時(shí)分析過(guò)五層涂層的能力，并可測(cè)定24種元素。

檢出限：金屬鍍層的分析厚度可達(dá)到 0.005μm。

厚度范圍：鍍層的分析厚度一般不過(guò) 50 微米。

厚度測(cè)試的準(zhǔn)確度低于5%。

測(cè)試的含量范圍是0.1%到99.9%。

檢測(cè)含量的準(zhǔn)確度低于0.5%。

穩(wěn)定性：重復(fù)測(cè)量的準(zhǔn)確度可達(dá)1%。

檢測(cè)時(shí)間為5到40秒。

探測(cè)器及其分辨率：140±5電子伏特的大窗口半導(dǎo)體鋰鈹探測(cè)器。

X射線設(shè)備：100W高功率微聚焦W靶管。

多通道分析儀：DMCA數(shù)字多通道分析技術(shù)，具備分析4096個(gè)通道的能力。

標(biāo)配的準(zhǔn)直器和濾光片尺寸為Φ0.2mm；可選配的孔徑有0.1×0.2mm、Φ0.15mm、Φ0.3mm或其他尺寸，測(cè)試直徑的鋁或鎳濾光片為Ф0.1mm。